整体高度集成

样品台可加热到200℃，加热精度0.1℃

可升级探针台模块，实现一机多用

Z轴升降精度高达0.5μm

显微镜双固定卡位，放大倍数可达900倍

该系列标配均采用手动控制，也可升级电动高精度控制

用于科研院校搭建测试系统，例：材料电学测试系统、光电探测器光电响应系统、光电Mapping测试系统、忆阻器与神经元系统