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参数规格

产品说明

最高可达300℃
温控精度±1℃
温度均匀性±3℃
高温真空腔探针台系统主要用于为被测芯片提供一个高温的变温测量环境，以便测量分析温度变化时芯片性能参数的变化
腔体内被测芯片在真空环境中有效避免易受氧化半导体器件接触空气所带来的测试结果误差
我们也可以选择使用操作杆控制的自动化针座来调整探针的位置
整体高集成，高稳定性，高漏电精度，高性价比！
创谱仪器可以根据客户应用搭建探针台，以达到更好得使用效果和性价比！

通用参数

真空获得方式

机械泵抽真空

机械泵抽真空

最高300℃，温控精度±1℃

最高300℃，温控精度±1℃

100fA

CPPSZ系列真空加热探针台

高温真空腔探针台系统主要用于为被测芯片提供一个高温的变温测量环境，以便测量分析温度变化时芯片性能参数的变化
腔体内被测芯片在真空环境中有效避免易受氧化半导体器件接触空气所带来的测试结果误差
我们也可以选择使用操作杆控制的自动化针座来调整探针的位置
整体高集成，高稳定性，高漏电精度，高性价比！
创谱仪器可以根据客户应用搭建探针台，以达到更好得使用效果和性价比！

产品展示

	产品型号	真空获得方式	样品盘加热温度	测试漏电流精度	对比	单价	发货日期 	购物车
参数+	CPPSSZ32	机械泵抽真空	最高300℃，温控精度±1℃	100fA		联系客服	联系客服

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