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创谱商城 基础测试探针台 综合表征分析探针台 探针台 PH综合表征分析探针台
  • 参数规格
产品说明
  • 半圆形探针架，可放置6个DC探针座
  • 漏电精度100fA（吉时利2636B实测）
  • 整体位移精度1μm
  • 1微米以上电极/PAD使用
  • 兼容高倍率电子显微镜/体式显微镜/金相显微镜等
  • 探针台整体位移分辨率1μm，样品XYZR四维调节
  • 用于科研院校搭建测试系统，例：材料电学测试系统、光电探测器光电响应系统、光电Mapping测试系统、忆阻器与神经元系统
  • 全系列搭配显微镜XY精密移动功能，可以选配多种位移行程以及驱动形式
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整体集成度高，且测试方便简单，底座行程大，弥补了基础型的缺陷，可以满足多种测试应用，且可以升级射频探针台；优点：高性价比，应用面广，稳定性高；应用：一般用在高校/研究所科研实验是居多，以及科研型单位研发部；

通用参数
漏电精度
100fA（KEITHLEY2636B实测）
整体位移精度
1μm
标配针座精度
3μm（可升级成1/0.5μm）
针座数量
标配2个（可升级6个）
接口形式
BNC/三同轴接口
背电极
可以引出背电极
PH系列综合表征分析探针台
  • 两边半圆形探针架，可以放置最多6个探针座，且方便放置探针卡集成4路吸附开关，方便吸附
  • 1微米以上电极/PAD使用
  • XY行程115X115mm，Z轴调节10mm，360°旋转粗调+士5°精调
  • 可用于硅封装的内部观测和光谱特性分析，需要红外光源和红外摄像机
  • 集成高精度高稳定性手动位移台,XYZ行程50mm，精度lum
  • 模块化设计，调节精度 3 微米，可调磁性吸附固定
  • 最大电压 1400V，阻抗 50 欧姆XYZ 轴行程分别是 13mm行程
  • 位移放置:XYZR四轴调节XY行程115X115mm，Z轴调节10mm，360°旋转粗调+士5°精调
  • 多被用于晶圆测试、LED测试、功率器件测试、MEMS测试、PCB测试、液晶面板测试、太阳能电池片测试、材料表面电阻率测试等

产品展示
产品型号 样品台尺寸 样品台行程 整体位移精度 对比 单价 发货日期 购物车
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 PH-4 4英寸 XY行程115X115mm，Z轴调节10mm，360°旋转粗调+士5°精调 1μm（可定制）
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 PH-6 6英寸 XY行程115mmX115mm，Z轴调节10mm，360°旋转粗调+士5°精调 1μm（可定制）
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 PH-8 8英寸 XY行程115mmX115mm，Z轴调节10mm，360°旋转粗调+士5°精调 1μm（可定制）
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 PH-12 12英寸 XY行程115mmX115mm，Z轴调节10mm，360°旋转粗调+士5°精调 1μm（可定制）
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