半圆形探针架，可放置6个DC探针座

漏电精度100fA（吉时利2636B实测）

整体位移精度1μm

1微米以上电极/PAD使用

兼容高倍率电子显微镜/体式显微镜/金相显微镜等

探针台整体位移分辨率1μm，样品XYZR四维调节

用于科研院校搭建测试系统，例：材料电学测试系统、光电探测器光电响应系统、光电Mapping测试系统、忆阻器与神经元系统

全系列搭配显微镜XY精密移动功能，可以选配多种位移行程以及驱动形式